ДОСЛІДЖУЙ НЕВІДОМЕ,
РОЗШИРЮЙ
МЕЖІ
ВІДОМОГО.

Підтримка нових досліджень
на перетині квантових технологій,
нанофабрикації та електронної мікроскопії.

Інститут Квантової Фізики — об'єднуємо сучасні методи нанофабрикації, передову електронну мікроскопію та матеріалознавчі дослідження для роботи з об'єктами від мікрометрового до атомарного масштабу.

Квантові технології — відкриття нових можливостей для створення надшвидких обчислювальних систем, захищеного зв'язку та високочутливих сенсорів.

Квантові інновації — перетворення фундаментальних наукових відкриттів на реальні технологічні рішення для промисловості, електроніки та науки.

Використовуємо сучасні комплекси
FIB-SEM та TEM для:

  • дослідження матеріалів на нанометровому й атомарному рівнях;
  • створення та модифікації мікро й наноструктур;
  • аналізу напівпровідникових пристроїв і квантових компонентів;
  • контролю якості складних багатошарових структур;
  • пошуку причин відмов та дефектів електронних компонентів;
  • підготовки зразків для високоточного матеріалознавчого аналізу.

Розробка та прототипування
квантових компонентів

Створюємо та досліджуємо елементи
для квантових і напівпровідникових
пристроїв:

  • квантові точки;
  • надпровідникові кубіти;
  • квантові сенсори;
  • наноструктури на основі
    напівпровідникових матеріалів.

Нанофабрикація та локальна
модифікація структур

За допомогою технології
FIB-SEM виконуємо:

  • іонно-променеве витравлення;
  • локальне напилення матеріалів;
  • створення та модифікацію наноструктур;
  • Circuit Edit та локальне редагування схем;
  • виготовлення спеціалізованих зразків
    для досліджень.

Підготовка TEM-зразків

Виготовляємо надтонкі ламелі товщиною від десятків нанометрів із використанням FIB-SEM.
Це дозволяє проводити високоточний TEM-аналіз та отримувати достовірні дані
про внутрішню будову досліджуваних матеріалів і пристроїв.

Атомарний аналіз матеріалів

Використовуємо TEM
(трансмісійну електронну мікроскопію) для:

  • візуалізації кристалічних ґраток;
  • аналізу дефектів матеріалів;
  • дослідження міжшарових меж;
  • оцінки якості напівпровідникових структур;
  • аналізу причин технологічного браку.

3D-реконструкція наноструктур

Виконуємо пошаровий аналіз на FIB-SEM для побудови
тривимірних моделей внутрішньої структури виробів.

  • мікроелектроніка та напівпровідники;
  • квантові гетероструктури;
  • аналіз мікросхем;
  • контроль якості виробництва;
  • дослідження механізмів відмов.

Наші переваги

  • аналіз на атомарному рівні;
  • повний цикл: від підготовки зразка до отримання результатів;
  • сучасні FIB-SEM та TEM технології;
  • робота з напівпровідниковими та квантовими структурами;
  • висока точність нанофабрикації та діагностики;
  • підтримка наукових і промислових проєктів.

FIB-SEM

Фокусований іонний та електронний пучок для нанофабрикації,
підготовки зразків, аналізу дефектів і 3D-реконструкції

TEM

Трансмісійна електронна мікроскопія для дослідження
структури матеріалів з атомарною роздільною здатністю

Ми співпрацюємо з

  • Науково-дослідні лабораторії;
  • Виробники мікроелектроніки;
  • Розробники квантових технологій;
  • Університети та дослідницькі центри;
  • R&D-відділи високотехнологічних компаній.

Наразі, ми в активному пошуку фізиків-теоретиків,
свої роботи можна надіслати нам на пошту: